日前，公司理化研究室两台新引进的理化检测设备：电感耦合等离子体发射光谱仪和马尔XR20粗糙度，安装调试完毕，正式投入使用。

　　工欲善其事必先利其器。近几年来，我公司积极着眼未来发展，筹措资金，新上了一大批国内外先进的理化检测设备，为公司科研试制和提高产品质量提供更为先进的手段。

　　此两台检测设备的使用，使我公司理化检测进一步阔宽了深度和广度，为科研提供了新的力器。

　　电感耦合等离子体发射光谱仪（iCAP 7400型），美国热电公司生产。

　　工作原理：原子发射光谱（AES）分析法是利用原子发射特征谱线所提供的信息来进行元素分析，具有多元素同时、快速、直接测定的优点。电感耦合等离子体（简称为ICP）发射光谱分析法是以等离子炬为激发光源的一种原子发射光谱分析技术，简称为ICP-AES或ICP-OES，是原子光谱分析中研究最为深入和应用最广泛、有效的分析技术之一。

　　主要功能：

　　1、定性分析：根据特征谱线的波长，便可以识别不同原子的存在，从而可以达到定性分析的目的。

　　2、定量分析：元素原子光谱的谱线强度与试样中相应原子的含量有一定的函数关系，根据这种关系实现元素的定量分析。

　　马尔XR20粗糙度（XR20），德国出品。

　　工作原理：触针直接在工件被测表面上轻轻划过，由于被测表面轮廓峰谷起伏，触针将在垂直于被测轮廓表面方向上产生上下移动，这种移动通过电子装置把信号加以放大，然后通过输出装置将有关粗糙度的数据和图形输出来。

　　主要功能：测量试样的表面粗糙度，如Ra、Rmax、Rz等。且配合不同规格的测针可以测量管材及异形丝等特殊试样的表面粗糙度。

　　技术参数：测量量程: ±250 um, ±500 um，粗糙度轮廓分辨率: ±250 um量程为7nm; ±500 um量程为50nm精度: 优于ISO/DIN 标准1级精度，驱动器的最大行程为25mm